分享光學窗口片檢測的基本原理

　　光學窗口片是經(jīng)過磨、拋光后形成相互平行的兩個表面的光學玻璃片。它們用在兩種環(huán)境間時可作為保護原件，然而它們對通過的可見光幾乎沒有影響 。常用的鍍膜有減反射膜（AR）和防刮傷膜（AS），也可按照客戶需求改善更好的效果，可以防水防塵防刮傷，按照客戶要求定制。光學窗口片是光學系統(tǒng)的前置保護片，主要可用于CCD/CMOS芯片的封裝、光學儀器、測量儀器及數(shù)碼設備的保護、激光二極管上的蓋片等。

　　光學窗口片檢測的基本原理

　　光學窗口片中的各種雜質，在光學特性上必然與光學窗口片本身有差異。當光線入射光學窗口片后，各種雜質會在反射、折射等方面表現(xiàn)出與周圍光學窗口片不同的異樣。例如，當均勻光垂直入射光學窗口片時，如光學窗口片中沒有雜質，出射的方向不會發(fā)生改變，所探測到的光也是均勻的；當光學窗口片中含有雜質時，出射的光線就會發(fā)生變化，所探測到的圖像也要隨之改變。由于雜質的存在，在其周圍就發(fā)生了應力集中及變形，在圖像中也容易觀察。若遇到光透射型缺陷（如裂紋、氣泡等），光線在該缺陷位置會發(fā)生折射，光的強度比周圍的要大，因而相機靶面上探測到的光也相應增強；若遇到光吸收型（如砂粒等）雜質，則該缺陷位置的光會變弱，相機靶面上探測到的光比周圍的光要弱。分析相機采集到的圖像信號的強弱變化、圖像特征，便能獲取相應的缺陷信息。